正置金相显微镜 BX12A
三目正置金相显微镜,长工作距平场物镜同轴落射照明带偏光,调焦定位和松紧调节同步影像输出,可100%通光摄影正置金相显微镜,观察面向上,便于寻找特定或广域范围内表面目标的观察,广泛应用于材料金相检验,电子行业IT,PCB和微颗粒,线材,纤维,表面喷涂,裂纹等研究和分析。
正置金相显微镜LW200-3JT/B
正置LW200-3JT/B金相显微镜本仪器广泛的应用于透明，半透明或不透明物质，观察目标：大于3 微米小于20微米，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。
正置金相显微镜LW200-4JFT/B
LW200-4JFT金相显微镜拥有复消系统，超平场的光学系统，在观察是成像更清晰。除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，由带有透反射照明系统。更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。
