晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10
TC-WSB-3Y微机型荧光白度仪
微机型荧光白度仪由光源、光学系统、探测系统、微机数据处理与显示系统等构成。定义光谱漫反射击比均为1的理想表面的白度为100，光谱漫反射比均为零的黑表面白度为0。
TC-XS100型 可勃吸收性测定仪
C-XS100型 可勃吸收性测定仪是纸张和纸板表面吸水性测定的专用仪器，采用吸收性试验多种方法中可勃（Cobb）试验法进行测试。其主要技术指标和性能参数符合相关标准规定。
TM939多功能红外线测温计
-20~650°C，可外接热电偶测棒 K/J/T/E/R，放射率设定 : 0.2~1 ，(D:S)=7:1 ，RS-232连接接口(软件选购)
KE经济型快烧箱式 箱式炉 管式炉
产品名称：KE经济型快烧箱式 箱式炉 管式炉产品型号：KE马弗炉产品技术概述：无锈独特设计吸引人的设计完美的温度分布
多点高压耐压测试仪
德国EA—Electronic (HCK) 耐压测试仪（HVP / MHP) 是EA公司的经典产品，相关产品多达15款。该设备应用领域广泛，可应用于变压器、电线电缆、电机、医疗设备，家用电器及其他一切要求进行安规测试的设备，同时也是科研实验室和技术监督部门不可缺少的实验设备。
条码检测仪64
条码检测仪条码检测仪是集光、机、电、计算机技术于一体，根据标准和ISO 标准设计、生产，是科技攻关项目的科研成果，全中文显示，自动判别条码码制,操作使用极为方便。
